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Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

  • 更新時(shí)間:2020-12-28
  • 瀏覽次數(shù):1713

Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個(gè)可抽真空的大型測(cè)量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測(cè)器能夠探測(cè)低至1 keV的熒光輻射能量,從而能夠有效地測(cè)量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。

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品牌Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾行業(yè)專用類型有色金屬
價(jià)格區(qū)間面議儀器種類臺(tái)式/落地式
應(yīng)用領(lǐng)域電子,交通,冶金,航天,汽車

Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個(gè)可抽真空的大型測(cè)量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測(cè)器能夠探測(cè)低至1 keV的熒光輻射能量,從而能夠有效地測(cè)量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。大孔徑準(zhǔn)直器的使用大幅提高了信號(hào)計(jì)數(shù)率,使儀器可以達(dá)到很小的重復(fù)精度和很低的測(cè)量下限。XUV非常適合測(cè)量很薄的鍍層和痕量分析。

        采用不同的準(zhǔn)直器和基本濾片組合,能夠保證每一次的測(cè)量都在*佳的條件下完成。在測(cè)量的同時(shí),可以直觀地查看測(cè)量點(diǎn)的影像。儀器測(cè)量空間寬大,樣品放置便捷,配合可編程的XYZ軸工作臺(tái),既適合測(cè)量平面、大型板材類樣品,也適合形狀復(fù)雜的樣品。并且使得連續(xù)測(cè)量分析鍍層厚度或元素分析也變得直觀而簡(jiǎn)單。儀器配有一個(gè)激光定位點(diǎn)作為輔助定位裝置,進(jìn)一步方便了樣品的快速定位基于儀器的通用設(shè)計(jì)以及真空測(cè)量箱所帶來的擴(kuò)展的測(cè)量能力,使得FISCHERSCOPE X-RAY XUV不僅可用于研究和開發(fā),也非常適合過程控制和實(shí)驗(yàn)室使用。

 

主要特征:

    • 帶鈹窗口的微聚焦X射線銠管,可選鎢管和鉬管。*高工作條件:50 kV, 50W
    • X射線探測(cè)器采用珀?duì)柼吕涞墓杵铺綔y(cè)器
    • 準(zhǔn)直器:4個(gè),可自動(dòng)切換,從直徑0.1mm到3mm
    • 基本濾片:6個(gè),可自動(dòng)切換
    • 可編程XYZ工作臺(tái)
    • 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測(cè)量位置。刻度線經(jīng)過校準(zhǔn),顯示實(shí)際測(cè)量點(diǎn)大小。
    • 可在真空,空氣或者氦氣的環(huán)境下工作


典型應(yīng)用領(lǐng)域:

    • 測(cè)量輕元素
    • 測(cè)量超薄鍍層和痕量分析
    • 常規(guī)金屬分析鑒定
    • 非破壞式寶石分析
    • 太陽(yáng)能光伏產(chǎn)業(yè)

應(yīng)用實(shí)例:

種類、來源和真實(shí)性,是評(píng)估寶石價(jià)值的本質(zhì)特征;而寶石材質(zhì)的分析結(jié)果則是影響判斷的決定性因素。通常,寶石的主要成份是鋁和硅的氧化物,還會(huì)伴隨有鎂和鈉等元素。另外, Cr、Fe、Ga等微量元素也是很重要的。XUV可以分析所有必要元素的光譜圖。在多個(gè)領(lǐng)域的應(yīng)用中,非常薄的Al鍍層、Si鍍層、氧化鋁鍍層和氧化硅鍍層正在變得原來越重要。在真空環(huán)境中鍍層厚度的測(cè)量結(jié)果有顯著的提高。使用XUV來測(cè)量這些鍍層,重復(fù)精度僅幾個(gè)納米

 

通用規(guī)格
設(shè)計(jì)用途能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)用于確定薄涂層,小結(jié)構(gòu),痕跡和合金。
元素范圍鈉(11)到鈾U(92)–同時(shí)*多24種元素
設(shè)計(jì)理念臺(tái)式單元,帶電動(dòng)開口圓柱形真空室;外部真空泵;可編程電動(dòng)X / Y / Z樣品臺(tái);高分辨率彩色攝像機(jī),放大范圍廣
測(cè)量方向向下
X射線源
X射線管帶銠靶的微焦點(diǎn)X射線管(可選用鎢,鉬或其他靶材)
高壓8 kV … 50 kV
孔徑(準(zhǔn)直器)4倍可更改:Ø0.1毫米; Ø0.6毫米 Ø1毫米; Ø3 mm(其他按需提供)
X射線探測(cè)
X射線接收器硅漂移探測(cè)器
電氣參數(shù)
電源要求AC 115 V or AC 230 V 50 / 60 Hz
功率max. 120 W (XUV 773 without evaluation PC and vacuum pump) 
保護(hù)等級(jí):IP40
尺寸規(guī)格
外部尺寸寬×深×高[mm]:640 x 640 x 760 mm 
內(nèi)部測(cè)量室尺寸寬×深×高[mm]:400 x 390 
重量ca. 120 kg 
環(huán)境要求
使用時(shí)溫度10° C – 40°C / 50°F – 104°F 
存儲(chǔ)或運(yùn)輸時(shí)溫度0° C – 50°C / 32°F – 122°F 
空氣相對(duì)濕度≤ 95 %,無結(jié)露
工作臺(tái)
設(shè)計(jì)電動(dòng)和快速可編程X / Y / Z樣品臺(tái)
行程X-/ Y-/ Z-axis [mm]:100 x 100 x 100 
重復(fù)性X / Y / Z≤ 0,01 mm (uni-directional) 
可用樣品放置區(qū)Width x depth [mm]: 135 x 135 
樣品*大重量≤ 1 kg 
樣品*大高度100 mm 

。

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